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Röntgenfluoreszenz-Analyse (RFA) zur zerstörungsfreien Schichtdickenmessung und Spurenanalytik

Beispiele möglicher Analysen:

  • Zusammensetzung (u.a. „Bleifreiheit“) und Beschichtungsstärken auf Lötkontakten von Elektronikbauteilen
  • Identifizierung bzw. Bestimmung der elementaren Zusammensetzung unbekannter Substanzen
  • RoHS-Screening im Hinblick auf Quecksilber, Chrom, Cadmium, Blei und Brom
  • Zerstörungsfreie Messung der Endoberflächen von Roh-Leiterplatten
  • Hotspot-Mapping zur Identifizierung bleihaltiger Lötstellen auf bestückten Leiterplatten

Die zerstörungsfreie RFA ist die am häufgsten eingesetzte Methode zur qualitativen und quantitativen Bestimmung der Schichtdicken einer Probe im Nanometer- und Mikrometerbereich.

Zur Qualifikation oder auch serienbegleitenden Qualitätskontrolle von Beschichtungen können beispielsweise die Hartgold-Platings auf Steckverbindern oder die Schichtdicken eines Leiterplatten-Finishs schnell und zerstörungsfrei überprüft werden. Auch die Identifizierung beziehungsweise Bestimmung der elementaren Zusammensetzung unbekannter Substanzen, beispielsweise anorganischer Verunreinigungen auf Baugruppen, ist mithilfe der RFA möglich.

Aufgrund der geringen Nachweisgrenzen eignet sich die RFA in vielen Fällen auch zur Durchführung eines Screenings auf RoHS beschränkte Substanzen.

Unterschiede der RFA zur Röntgenspektroskopie (EDX) im Rasterelektronenmikroskop (REM)

  • Die RFA nutzt als Anregung keinen Elektronenstrahl, sondern eine Röntgenröhre. Dies ermöglicht, neben deutlich tieferen Einblicken in den Analysebereich, vor allem auch die Untersuchung feuchter oder flüssiger Proben, da kein Vakuum notwendig ist.
  • Signifikant vereinfachte Probenvorbereitung, da die zu analysierende Probe keine elektrische Leitfähigkeit braucht, sodass auch Isolatoren wie FR4-Leiterplatten oder Keramiken ohne Mehraufwand untersucht werden können.

Röntgenfluoreszenz-Analyse 1 Röntgenfluoreszenz-Analyse 2 Röntgenfluoreszenz-Analyse 3

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