Vortrag auf dem Treffen des Arbeitskreises „Systemzuverlässigkeit von Aufbau- und Verbindungstechnologien“

Vortrag auf dem Treffen des Arbeitskreises „Systemzuverlässigkeit von Aufbau- und Verbindungstechnologien“


 

 

Auf dem 63. Treffen des Arbeitskreises „Systemzuverlässigkeit von Aufbau- und Verbindungstechnologien“ am 04.06. in Nürnberg referierte Thomas Kuhn, Assistent der Geschäftsleitung, über das Thema "Langzeitlagerung als Bestandteil einer vorausschauenden Obsoleszenzstrategie – Risiken und Lösungen".


Weitere Themen des Treffens waren:
- Frühzeitige Erkennung von Defekten in elektrisch leitfähigen Strukturen
- Thermografie als Prüfverfahren in der Elektronikproduktion
- Messtechnik für Materialcharakterisierung oder Package-Analyse
- Automobil-Elektronik in feuchter Umgebung: Nutzen von SIR-Tests basierend auf der IPC-9202
- Modellierung, Messung und Analyse von einzelnen und gekoppelten Signalvias in mehrlagigen HF-Substraten

 


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