Ermittlung von Bauteilfälschungen

Warenbewertung zur Ermittlung von Bauteilfälschungen/-manipulationen (Fakes)

Angewandte Normen

  • AS6081
  • IDEA-STD-1010
  • MIL-STD-202
  • MIL-STD-883

Mögliche Anwendungsbereiche:

Die Anzahl der gefälschten elektronischen Bauteile auf dem freien Markt nimmt stetig zu. Neben bereits ausgelöteten Bauteilen, Ausfallteilen, welche die erforderlichen Parameter nicht erfüllen oder gar Komponenten mit falschem bzw. keinem Chip, werden vor allem umgelabelte Bauteile als Original ausgewiesen und verkauft.

120 Ampere Leistungsdiode. Originalbauteil oben und Bauteil mit andersartiger Orientierung der Anschlüsse unten
Spannungsregler (LM2596). Originalbaustein links und Fälschung rechts
Umgelabeltes Bauteil nach Wischtest. Es kommt eine alte Lasermarkierung zum Vorschein

Das HTV-Institut für Materialanalyse mit seinen hochmodernen Analytiklaboren bietet neben zahlreichen Möglichkeiten, um die Originalität und Qualität
zugelieferter Teile bewerten und eventuelle Bauteilmanipulation feststellen zu können (Counterfeit Screening) jetzt auch die komplette Expertise gemäß dem
internationalen SAE-Standard AS6081 zur Ermittlung von Bauteilfälschungen an.

Dabei wird die Originalität bzw. Echtheit der zugekauften Teile über verschiedene detaillierte Untersuchungen des äußeren (z. B. Wareneingangsprüfung, Lichtmikroskopie) und nach chemischer Bauteilöffnung auch des inneren Aufbaus sichergestellt (z. B. Chipidentifizierung). Diese Bewertung ist gerade für elektronische Komponenten aus unsicherer Herkunft zur Wahrung der Qualität der eigenen Produkte von essentieller Bedeutung. So kann beispielsweise mittels eines Wischtests, bei dem die Bauteiloberfläche mithilfe spezieller Chemikalienbehandelt wird, festgestellt werden, ob das Bauteil nachträglich neu beschriftet und somit umgelabelt bzw. manipuliert wurde. Ergänzend zur visuellen Warenbewertung können noch weitere Untersuchungen wie z. B. Lötbarkeitstest oder Datenblattprüfungen durchgeführt werden.

Individuelle Warenbewertungen, je nach gewünschtem Umfang, für jeden Anwendungsfall.