Wenn Lichtmikroskope an ihre Grenzen stoßen, eröffnet sich mit der Rasterelektronenmikroskopie eine neue Welt!

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Mögliche Anwendungsbereiche:

  • Oberflächenuntersuchungen an elektronischen Bauteilen
  • Bestimmung des Schichtaufbaus an Bauteilanschlüssen
  • Analyse schlecht leitender kritischer Proben und Oberflächen im Niedervakuum-Betrieb
  • Auffinden von Mikrorissen
  • Whiskererkennung

Rasterelektronenmikroskopie (REM)

Aufgrund von Migration und immer komplexeren feinsten Bauteil-Strukturen wird das Rasterelektronenmikroskop für den Bereich der Qualitätsuntersuchung von Bauteilen immer wichtiger.

Mittels höchst vergrößerter Aufnahmen in anspruchsvollster Qualität und Bildschärfe können selbst kritischste Proben hinsichtlich Alterungsprozessen und Schwachstellen eindeutig analysiert und dokumentiert werden.

Bauteil- oder Verarbeitungsfehler können so nicht nur gefunden werden, sondern der Kunde erhält in Verbindung mit einem ausführlichen Untersuchungsbericht eine wertvolle Argumentationshilfe für Verhandlungen mit Lieferanten.

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