Akkreditiertes Prüflabor

Angewandte Normen

  • DIN EN ISO/IEC 17025
  • DIN EN ISO 3497

Weltweit anerkannte zerstörungsfreie Schichtdickenmessung zur Untersuchung von Metallbeschichtungen im Mikro- und Nanometerbereich, z. B.:

  • Lötoberflächen von Leiterplatten und deren Schutzlacke
  • Beschichtungen von Lötkontakten oder Steckverbindern
  • Korrosionsschutzschichten
  • Chromatierungen
  • Veredelungen (z. B. Vergoldung von Schmuck)

Methoden zur Schichtdickenmessung, z. B.:

Leiterplatte im Röntgenfluoreszenz-Spectrometer
Anschlusspin mit Messfleck
Prüfbericht im akkreditierten Prüflabor

Die zerstörungsfreie RFA ist die am häufigsten eingesetzte Methode zur qualitativen und quantitativen Bestimmung der Schichtdicken einer Probe im Nanometer- und Mikrometerbereich.


Im „Akkreditierten Prüflabor für Materialanalysen“ von HTV (internationaler Standard DIN EN ISO/IEC 17025) können nach DIN EN ISO 3497 „Schichtdickenmessungen an MetaIlen mit dem RöntgenfIuoreszenz-Verfahren“ durchgeführt werden.

Mithilfe dieser Methode lassen sich zur Qualifikation oder auch serienbegleitenden Qualitätskontrolle von Beschichtungen beispielsweise die Hartgold-Platings auf Steckverbindern oder die Schichtdicken eines Leiterplatten-Finishs schnell und zerstörungsfrei überprüfen.

Als eines von wenigen Laboren in Deutschland bietet HTV damit Ergebnisse für Schichtdickenmessungen mit der RöntgenfIuoreszenz-Analyse (RFA) an, die international anerkannt und weltweit vergleichbar sind.