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Presse / Fachbeiträge
productronic: „Fallstricke beim Hot Solder Dipping“
„Wir können Lagerzeiten von bis zu 50 Jahren erreichen“
Langzeiteinlagerung von Wafern. Nach 30 Jahren frisch wie am ersten Tag
Langzeitkonservierung als Schlüssel in der Wafer Supply Chain
ALTER | HTV präsentiert sein Engagement für die Halbleiterbranche auf dem Silicon Saxony Day
Neuer Markenauftritt von ALTER und HTV zeigt zukunftsgerichtete Portfolioerweiterung
TÜV NORD GROUP Geschäftsbericht 2023 – Die Basis der vernetzten Welt
TÜV NORD GROUP unterstützt Ausbau der Halbleiterbranche in Deutschland und Europa
#explore – Lang leben die Halbleiterchips
Langzeitlagerung hilft – aber wie funktioniert sie? / Auf dem Weg zum europäischen OSAT-Anbieter
Editorial: Konzernsynergien nutzen, um das Potenzial von Zukunftsmärkten zu heben
#explore – „Entdeckt, erklärt, erzählt“ – Halbleiter: Warum sie für heutige Technologien unverzichtbar sind
Hochsicherheits-Lagerung von medizinischen Erzeugnissen – Tieftemperatur-Kalibrierung für große Stückzahlen
Tieftemperatur-Kalibrierung für große Stückzahlen und Hochsicherheits-Langzeitbevorratung von Sensoren
Der Popcorn-Effekt: Wenn es im Reflow-Ofen „knackt“
Open-Source-Toolchain für FPGA-Entwicklung nutzen
Damit die Produktion weiterläuft: Wie gefälschte ICs früh erkannt werden können
Bundesministerium der Verteidigung: Wehrwissenschaftliche Forschung Jahresbericht 2021
electronic fab: „Chipmangel hemmt auch deutsche Forschungsindustrie“
meditronic-journal 2-2022 „Halbleiter-/Bauteilkrise“
Risikominimierung durch Obsoleszenzmanagement – Fälschungen erkennen und Lagerfähigkeit sicherstellen
golem.de: Angriff der Chipfälscher
DKE: „Risk minimization through obsolescence management – detecting counterfeits and ensuring shelf life“
electronic fab: „Vorsicht – gefälschte Bauteile! Spürnase im Einsatz“
electronic fab: „Ultraschallmikroskopie zur umfassenden Analyse“
electronic fab: „Gefälschte elektronische Bauteile: Erkennung, Schadensbegrenzung und Entsorgung“
meditronic journal: „Mittels Ultraschall Fehlern in Elektronikkomponenten auf der Spur“
electronic fab: „Mittels Ultraschall Fehlern auf der Spur“
Markt&Technik: „Langzeitlagerung elektronischer Komponenten – Eine Alternative zum Redesign“
evertiq: „HTV: Halbleiterkrise – Bauteilfälschungen bereits im Vorfeld erkennen“
evertiq: „Weltweit einzigartige Langzeitlagerung von elektronischen Komponenten für bis zu 50 Jahre“
Elektronik Praxis: „Datensicherheit von Flash-Speichern im Vergleich“
PLUS: „Zerstörungsfrei und zerstörend: Lötstellen prüfen“
electronic fab: „Ultraschall-Mikroskopie zur umfassenden Analyse“
electronic fab: „Qualitätssicherung optischer Bauteile“
electronic fab: „Schichtdickenmessung an metallischen Proben im akkreditierten Prüflabor“
meditronic Journal: „Wiederherstellung der Lötbarkeit elektronischer Komponenten mittels Spezialverfahren“
meditronic Journal: „Die Röntgenfluoreszenzanalyse – Schichtdickenmessung von metallischen Schichten im akkreditierten Prüflabor“
evertiq: „Langzeitlagerung als Herausforderung im Rahmen eines strategischen Obsoleszenzmanagements“
Elektronik Praxis: „Bauteilfälschungen systematisch aufgespürt“
meditronic Journal: „Qualitätssicherung optischer Bauteile in der Medizintechnik“
electronic fab: „Qualifikation und Fehleranalyse von Lötstellen“
PLUS: „Reinigung zur Wiederherstellung der Lötbarkeit“
Markt&Technik: „Wie sich Komponenten dennoch lange lagern lassen“
meditronic Journal: „Langzeitlagerung elektronischer Komponenten zur Sicherstellung dauerhafter Ersatzteilverfügbarkeit in der Medizintechnik“
electronic fab: „Wiederherstellung der Lötbarkeit elektronischer Komponenten mittels Spezialverfahren“
yokoten: „Erfindergeist bei HTV“
Elektronik Praxis: „Wenn elektronische Komponenten versagen, ist Hilfe gefragt“
meditronic Journal: “ Wareneingangskontrolle elektronischer Komponenten zur Qualitätssicherung“
electronic fab: „Qualitätssicherung fremdbeschaffter Komponenten durch umfassendes Counterfeit-Screening“
electronic fab: „Wareneingangskontrolle elektronischer Komponenten zur Qualitätssicherung“
meditronic Journal: „Detaillierte Tests und Fehleranalysen zur Sicherstellung der Zuverlässigkeit medizintechnischer Geräte“
all-electronics.de: „Cyperion 1: Drei Sicherheitslevel bieten hohen Schutz“
Elektronik Praxis: „Hochsichere Büro-PCs dank dreifach geteiltem Computersystem“ – Cyperion® 1-Bericht in der Elektronik Praxis“
meditronic Journal: „Qualitätssicherung und dauerhafte Ersatzteilverfügbarkeit in der Medizintechnik“
electronic fab: „Qualitätssicherung durch umfassende Test- und Analysedienstleistungen“
Elektronik Praxis: „Test- und Analyseverfahren sichern Qualität elektronischer Bauteile und Baugruppen“
Quality Engineering: „Bauteilfälschungen auf der Spur“
meditronic Journal: „Langzeitlagerung als wichtiger Bestandteil eines strategischen Obsoleszenzmanagements“
PLUS: „FPGAs in Anwendungen mit hoher IT-Sicherheit“
meditronic Journal: „Detaillierte Tests und Fehleranalysen zur Sicherstellung der Zuverlässigkeit medizintechnischer Geräte“
Organisator: „Kreativität: Schlüssel für unsere Zukunft“
evertiq: „Stand des Isolation Design Flows und der partiellen Rekonfiguration für Zynq 7000 / Zynq UltraScale+“
EPP: „Gib Fehlerquellen keine Chance“
electronic fab: „Erkennung von Hardware-Manipulationen durch Lötzinnanalyse“
electronic fab: „Kreativität, der Schlüssel für unsere Zukunft“
productronic: „Spezielle Langzeitlagerung schließt Versorgungslücke“
Elektronik: „Obsoleszenzmanagement: Langzeitlagerung stellt Verfügbarkeit sicher“
Markt&Technik: „So lässt sich die Alterung aufhalten“
PLUS: „Manipulation auf der Spur – Baugruppen nach dem Reworkprozess“
Elektronik Praxis: „Test- und Analyseverfahren decken Fehlerquellen schonungslos auf“
FOM Magazin: Interview „Obsolescencemanagement“
Elektronik Praxis: „FPGAs in Anwendungen mit hoher IT-Sicherheit“
meditronic Journal: „Langzeitkonservierung und -lagerung elektronischer Komponenten – Risiken und Lösungen“
absatzwirtschaft: „Diskutiert doch mal…Obsoleszenz“
all-electronics.de: „Test- und Analyse für jeden Anwendungsfall“
E&E Faszination Elektronik: „Risiken bei der Langzeitverfügbarkeit von Komponenten sicher managen“
evertiq: „Die Nanoindentation als Analysemethode zur Qualifizierung bei unterschiedlichsten Materialien“
all-electronics.de: „Langzeitlagerung als wichtiger Bestandteil eines strategischen Obsoleszenzmanagements“
evertiq: „Einwandfreie Funktionalität und Qualität dank umfassender Test- und Analytikdienstleistungen“
electronic fab: „Röntgen-Fluoreszenz-Analyse als effiziente Inspektionsmethode für Elektronikprodukte“
PLUS: „Röntgen-Fluoreszenz-Analyse als effiziente Inspektionsmethode für Elektronikprodukte“
Elektronik Praxis: „Langzeitlagerung elektronischer Komponenten“
all-electronics.de: „Analyse per Nanoindentation“
FOM Magazin: Interview „Obsolescencemanagement“
Quality Engineering: „Belastungsfähigkeit auf der Probe“
Design&Elektronik: „Steckverbinder zerstörungsfrei untersuchen“
evertiq: „Röntgenfluoreszenz-Analyse als effiziente Inspektionsmethode für Elektronikprodukte“
meditronic Journal: „Steigende Herausforderungen in der Pflegeindustrie“
all-electronics.de: „Qualitätssicherung durch Test- und Analytik-Dienstleistungen“
electronic fab: „Wachsende Anforderungen an Test und Qualifizierung im globalen Markt“
SMT Insight: „Trends und Entwicklungen beim Testen elektronischer Bauteile“
all-electronics.de: „Langzeitlagerung von elektronischen Bauteilen“
Elektronik Praxis: Geplante Obsoleszenz: „Man kann genau berechnen, wie lange ein Gerät läuft“
electronic fab: „Einwandfreie Funktionalität und Qualität für jeden Anwendungsfall“
yokoten: „Längere Produktlebenszeit schont Ressourcen“
Technik in Bayern: „TAB® zur Langzeitlagerung elektronischer Bauteile“
meditronic Journal: „Schwachstellen früh aufdecken“
productronic: „Ins Innere geschaut“
bahn manager: „Cool bleiben: So lassen sich Obsoleszenzen managen“
TÜV Hessen: „Tüftler im Nanobereich“
yokoten: „Ein Appell für Kreativität“
yokoten: „Wie erkennen Endverbraucher Sollbruchstellen bereits vor dem Kauf?“
evertiq: „Industrie 4.0, eine gesteuerte Hysterie?“
all-electronics.de: „Bauteilfehlern auf der Spur“
Markt&Technik: „Absichtliche Sollbruchstellen finden wir in allen Preisgruppen“
PLUS: „Reworking von Baugruppen“
Markt&Technik: „Lang leben die Bauteile“
EPP: „Effizienter Mixed-Signal-Test bei Halbleiter-Spezialist HTV“
all-electronics.de: „Hochleistungszentrum für elektronische Bauteile“
