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Presse / Fachbeiträge

Langzeiteinlagerung von Wafern. Nach 30 Jahren frisch wie am ersten Tag

Langzeitkonservierung als Schlüssel in der Wafer Supply Chain

ALTER | HTV präsentiert sein Engagement für die Halbleiterbranche auf dem Silicon Saxony Day

Neuer Markenauftritt von ALTER und HTV zeigt zukunftsgerichtete Portfolioerweiterung

TÜV NORD GROUP Geschäftsbericht 2023 – Die Basis der vernetzten Welt

TÜV NORD GROUP unterstützt Ausbau der Halbleiterbranche in Deutschland und Europa

#explore – Lang leben die Halbleiterchips

Langzeitlagerung hilft – aber wie funktioniert sie? / Auf dem Weg zum europäischen OSAT-Anbieter

Editorial: Konzernsynergien nutzen, um das Potenzial von Zukunftsmärkten zu heben

#explore – „Entdeckt, erklärt, erzählt“ – Halbleiter: Warum sie für heutige Technologien unverzichtbar sind

Hochsicherheits-Lagerung von medizinischen Erzeugnissen – Tieftemperatur-Kalibrierung für große Stückzahlen

Tieftemperatur-Kalibrierung für große Stückzahlen und Hochsicherheits-Langzeitbevorratung von Sensoren

Der Popcorn-Effekt: Wenn es im Reflow-Ofen „knackt“

Open-Source-Toolchain für FPGA-Entwicklung nutzen

Damit die Produktion weiterläuft: Wie gefälschte ICs früh erkannt werden können

Bundesministerium der Verteidigung: Wehrwissenschaftliche Forschung Jahresbericht 2021

electronic fab: „Chipmangel hemmt auch deutsche Forschungsindustrie“
meditronic-journal 2-2022 „Halbleiter-/Bauteilkrise“

Risikominimierung durch Obsoleszenzmanagement – Fälschungen erkennen und Lagerfähigkeit sicherstellen
golem.de: Angriff der Chipfälscher

DKE: „Risk minimization through obsolescence management – detecting counterfeits and ensuring shelf life“

electronic fab: „Vorsicht – gefälschte Bauteile! Spürnase im Einsatz“

electronic fab: „Ultraschallmikroskopie zur umfassenden Analyse“

electronic fab: „Gefälschte elektronische Bauteile: Erkennung, Schadensbegrenzung und Entsorgung“

meditronic journal: „Mittels Ultraschall Fehlern in Elektronikkomponenten auf der Spur“

electronic fab: „Mittels Ultraschall Fehlern auf der Spur“

Markt&Technik: „Langzeitlagerung elektronischer Komponenten – Eine Alternative zum Redesign“

evertiq: „HTV: Halbleiterkrise – Bauteilfälschungen bereits im Vorfeld erkennen“

evertiq: „Weltweit einzigartige Langzeitlagerung von elektronischen Komponenten für bis zu 50 Jahre“

Elektronik Praxis: „Datensicherheit von Flash-Speichern im Vergleich“

PLUS: „Zerstörungsfrei und zerstörend: Lötstellen prüfen“

electronic fab: „Ultraschall-Mikroskopie zur umfassenden Analyse“

electronic fab: „Qualitätssicherung optischer Bauteile“

electronic fab: „Schichtdickenmessung an metallischen Proben im akkreditierten Prüflabor“

meditronic Journal: „Wiederherstellung der Lötbarkeit elektronischer Komponenten mittels Spezialverfahren“

meditronic Journal: „Die Röntgenfluoreszenzanalyse – Schichtdickenmessung von metallischen Schichten im akkreditierten Prüflabor“

evertiq: „Langzeitlagerung als Herausforderung im Rahmen eines strategischen Obsoleszenzmanagements“

Elektronik Praxis: „Bauteilfälschungen systematisch aufgespürt“

meditronic Journal: „Qualitätssicherung optischer Bauteile in der Medizintechnik“

electronic fab: „Qualifikation und Fehleranalyse von Lötstellen“

PLUS: „Reinigung zur Wiederherstellung der Lötbarkeit“

Markt&Technik: „Wie sich Komponenten dennoch lange lagern lassen“

meditronic Journal: „Langzeitlagerung elektronischer Komponenten zur Sicherstellung dauerhafter Ersatzteilverfügbarkeit in der Medizintechnik“

electronic fab: „Wiederherstellung der Lötbarkeit elektronischer Komponenten mittels Spezialverfahren“

yokoten: „Erfindergeist bei HTV“

Elektronik Praxis: „Wenn elektronische Komponenten versagen, ist Hilfe gefragt“

meditronic Journal: “ Wareneingangskontrolle elektronischer Komponenten zur Qualitätssicherung“

electronic fab: „Qualitätssicherung fremdbeschaffter Komponenten durch umfassendes Counterfeit-Screening“

electronic fab: „Wareneingangskontrolle elektronischer Komponenten zur Qualitätssicherung“

meditronic Journal: „Detaillierte Tests und Fehleranalysen zur Sicherstellung der Zuverlässigkeit medizintechnischer Geräte“

all-electronics.de: „Cyperion 1: Drei Sicherheitslevel bieten hohen Schutz“

Elektronik Praxis: „Hochsichere Büro-PCs dank dreifach geteiltem Computersystem“ – Cyperion® 1-Bericht in der Elektronik Praxis“

meditronic Journal: „Qualitätssicherung und dauerhafte Ersatzteilverfügbarkeit in der Medizintechnik“

electronic fab: „Qualitätssicherung durch umfassende Test- und Analysedienstleistungen“

Elektronik Praxis: „Test- und Analyseverfahren sichern Qualität elektronischer Bauteile und Baugruppen“

Quality Engineering: „Bauteilfälschungen auf der Spur“

meditronic Journal: „Langzeitlagerung als wichtiger Bestandteil eines strategischen Obsoleszenzmanagements“

PLUS: „FPGAs in Anwendungen mit hoher IT-Sicherheit“

meditronic Journal: „Detaillierte Tests und Fehleranalysen zur Sicherstellung der Zuverlässigkeit medizintechnischer Geräte“

Organisator: „Kreativität: Schlüssel für unsere Zukunft“

evertiq: „Stand des Isolation Design Flows und der partiellen Rekonfiguration für Zynq 7000 / Zynq UltraScale+“

EPP: „Gib Fehlerquellen keine Chance“

electronic fab: „Erkennung von Hardware-Manipulationen durch Lötzinnanalyse“

electronic fab: „Kreativität, der Schlüssel für unsere Zukunft“

productronic: „Spezielle Langzeitlagerung schließt Versorgungslücke“

Elektronik: „Obsoleszenzmanagement: Langzeitlagerung stellt Verfügbarkeit sicher“

Markt&Technik: „So lässt sich die Alterung aufhalten“

PLUS: „Manipulation auf der Spur – Baugruppen nach dem Reworkprozess“

Elektronik Praxis: „Test- und Analyseverfahren decken Fehlerquellen schonungslos auf“

FOM Magazin: Interview „Obsolescencemanagement“

Elektronik Praxis: „FPGAs in Anwendungen mit hoher IT-Sicherheit“

meditronic Journal: „Langzeitkonservierung und -lagerung elektronischer Komponenten – Risiken und Lösungen“

absatzwirtschaft: „Diskutiert doch mal…Obsoleszenz“

all-electronics.de: „Test- und Analyse für jeden Anwendungsfall“

E&E Faszination Elektronik: „Risiken bei der Langzeitverfügbarkeit von Komponenten sicher managen“

evertiq: „Die Nanoindentation als Analysemethode zur Qualifizierung bei unterschiedlichsten Materialien“

all-electronics.de: „Langzeitlagerung als wichtiger Bestandteil eines strategischen Obsoleszenzmanagements“

evertiq: „Einwandfreie Funktionalität und Qualität dank umfassender Test- und Analytikdienstleistungen“

electronic fab: „Röntgen-Fluoreszenz-Analyse als effiziente Inspektionsmethode für Elektronikprodukte“

PLUS: „Röntgen-Fluoreszenz-Analyse als effiziente Inspektionsmethode für Elektronikprodukte“

Elektronik Praxis: „Langzeitlagerung elektronischer Komponenten“

all-electronics.de: „Analyse per Nanoindentation“

FOM Magazin: Interview „Obsolescencemanagement“

Quality Engineering: „Belastungsfähigkeit auf der Probe“

Design&Elektronik: „Steckverbinder zerstörungsfrei untersuchen“

evertiq: „Röntgenfluoreszenz-Analyse als effiziente Inspektionsmethode für Elektronikprodukte“

meditronic Journal: „Steigende Herausforderungen in der Pflegeindustrie“

all-electronics.de: „Qualitätssicherung durch Test- und Analytik-Dienstleistungen“

electronic fab: „Wachsende Anforderungen an Test und Qualifizierung im globalen Markt“

VDE/DKE-TAGUNG 2017 – Whitepaper – Lagerfähigkeit und Alterungsmechanismen von elektronischen Bauteilen und Komponenten

SMT Insight: „Trends und Entwicklungen beim Testen elektronischer Bauteile“

all-electronics.de: „Langzeitlagerung von elektronischen Bauteilen“

Elektronik Praxis: Geplante Obsoleszenz: „Man kann genau berechnen, wie lange ein Gerät läuft“

electronic fab: „Einwandfreie Funktionalität und Qualität für jeden Anwendungsfall“

yokoten: „Längere Produktlebenszeit schont Ressourcen“

Technik in Bayern: „TAB® zur Langzeitlagerung elektronischer Bauteile“

meditronic Journal: „Schwachstellen früh aufdecken“

productronic: „Ins Innere geschaut“

bahn manager: „Cool bleiben: So lassen sich Obsoleszenzen managen“

TÜV Hessen: „Tüftler im Nanobereich“

yokoten: „Ein Appell für Kreativität“

yokoten: „Wie erkennen Endverbraucher Sollbruchstellen bereits vor dem Kauf?“

evertiq: „Industrie 4.0, eine gesteuerte Hysterie?“

all-electronics.de: „Bauteilfehlern auf der Spur“

Markt&Technik: „Absichtliche Sollbruchstellen finden wir in allen Preisgruppen“

PLUS: „Reworking von Baugruppen“

Markt&Technik: „Lang leben die Bauteile“

EPP: „Effizienter Mixed-Signal-Test bei Halbleiter-Spezialist HTV“

all-electronics.de: „Hochleistungszentrum für elektronische Bauteile“
