zurück zur Übersicht Nachrichten TV-Beiträge
Presse / Fachbeiträge
Langzeiteinlagerung von Wafern. Nach 30 Jahren frisch wie am ersten Tag
Langzeitkonservierung als Schlüssel in der Wafer Supply Chain
ALTER | HTV präsentiert sein Engagement für die Halbleiterbranche auf dem Silicon Saxony Day
Neuer Markenauftritt von ALTER und HTV zeigt zukunftsgerichtete Portfolioerweiterung
TÜV NORD GROUP Geschäftsbericht 2023 – Die Basis der vernetzten Welt
TÜV NORD GROUP unterstützt Ausbau der Halbleiterbranche in Deutschland und Europa
#explore – Lang leben die Halbleiterchips
Langzeitlagerung hilft – aber wie funktioniert sie? / Auf dem Weg zum europäischen OSAT-Anbieter
Editorial: Konzernsynergien nutzen, um das Potenzial von Zukunftsmärkten zu heben
#explore – „Entdeckt, erklärt, erzählt“ – Halbleiter: Warum sie für heutige Technologien unverzichtbar sind
Hochsicherheits-Lagerung von medizinischen Erzeugnissen – Tieftemperatur-Kalibrierung für große Stückzahlen
Tieftemperatur-Kalibrierung für große Stückzahlen und Hochsicherheits-Langzeitbevorratung von Sensoren
Der Popcorn-Effekt: Wenn es im Reflow-Ofen „knackt“
Open-Source-Toolchain für FPGA-Entwicklung nutzen
Damit die Produktion weiterläuft: Wie gefälschte ICs früh erkannt werden können
Bundesministerium der Verteidigung: Wehrwissenschaftliche Forschung Jahresbericht 2021
electronic fab: „Chipmangel hemmt auch deutsche Forschungsindustrie“
meditronic-journal 2-2022 „Halbleiter-/Bauteilkrise“
Risikominimierung durch Obsoleszenzmanagement – Fälschungen erkennen und Lagerfähigkeit sicherstellen
golem.de: Angriff der Chipfälscher
DKE: „Risk minimization through obsolescence management – detecting counterfeits and ensuring shelf life“
electronic fab: „Vorsicht – gefälschte Bauteile! Spürnase im Einsatz“
electronic fab: „Ultraschallmikroskopie zur umfassenden Analyse“
electronic fab: „Gefälschte elektronische Bauteile: Erkennung, Schadensbegrenzung und Entsorgung“
meditronic journal: „Mittels Ultraschall Fehlern in Elektronikkomponenten auf der Spur“
electronic fab: „Mittels Ultraschall Fehlern auf der Spur“
Markt&Technik: „Langzeitlagerung elektronischer Komponenten – Eine Alternative zum Redesign“
evertiq: „HTV: Halbleiterkrise – Bauteilfälschungen bereits im Vorfeld erkennen“
evertiq: „Weltweit einzigartige Langzeitlagerung von elektronischen Komponenten für bis zu 50 Jahre“
Elektronik Praxis: „Datensicherheit von Flash-Speichern im Vergleich“
PLUS: „Zerstörungsfrei und zerstörend: Lötstellen prüfen“
electronic fab: „Ultraschall-Mikroskopie zur umfassenden Analyse“
electronic fab: „Qualitätssicherung optischer Bauteile“
electronic fab: „Schichtdickenmessung an metallischen Proben im akkreditierten Prüflabor“
meditronic Journal: „Wiederherstellung der Lötbarkeit elektronischer Komponenten mittels Spezialverfahren“
meditronic Journal: „Die Röntgenfluoreszenzanalyse – Schichtdickenmessung von metallischen Schichten im akkreditierten Prüflabor“
evertiq: „Langzeitlagerung als Herausforderung im Rahmen eines strategischen Obsoleszenzmanagements“
Elektronik Praxis: „Bauteilfälschungen systematisch aufgespürt“
meditronic Journal: „Qualitätssicherung optischer Bauteile in der Medizintechnik“
electronic fab: „Qualifikation und Fehleranalyse von Lötstellen“
PLUS: „Reinigung zur Wiederherstellung der Lötbarkeit“
Markt&Technik: „Wie sich Komponenten dennoch lange lagern lassen“
meditronic Journal: „Langzeitlagerung elektronischer Komponenten zur Sicherstellung dauerhafter Ersatzteilverfügbarkeit in der Medizintechnik“
electronic fab: „Wiederherstellung der Lötbarkeit elektronischer Komponenten mittels Spezialverfahren“
yokoten: „Erfindergeist bei HTV“
Elektronik Praxis: „Wenn elektronische Komponenten versagen, ist Hilfe gefragt“
meditronic Journal: “ Wareneingangskontrolle elektronischer Komponenten zur Qualitätssicherung“
electronic fab: „Qualitätssicherung fremdbeschaffter Komponenten durch umfassendes Counterfeit-Screening“
electronic fab: „Wareneingangskontrolle elektronischer Komponenten zur Qualitätssicherung“
meditronic Journal: „Detaillierte Tests und Fehleranalysen zur Sicherstellung der Zuverlässigkeit medizintechnischer Geräte“
all-electronics.de: „Cyperion 1: Drei Sicherheitslevel bieten hohen Schutz“
Elektronik Praxis: „Hochsichere Büro-PCs dank dreifach geteiltem Computersystem“ – Cyperion® 1-Bericht in der Elektronik Praxis“
meditronic Journal: „Qualitätssicherung und dauerhafte Ersatzteilverfügbarkeit in der Medizintechnik“
electronic fab: „Qualitätssicherung durch umfassende Test- und Analysedienstleistungen“
Elektronik Praxis: „Test- und Analyseverfahren sichern Qualität elektronischer Bauteile und Baugruppen“
Quality Engineering: „Bauteilfälschungen auf der Spur“
meditronic Journal: „Langzeitlagerung als wichtiger Bestandteil eines strategischen Obsoleszenzmanagements“
PLUS: „FPGAs in Anwendungen mit hoher IT-Sicherheit“
meditronic Journal: „Detaillierte Tests und Fehleranalysen zur Sicherstellung der Zuverlässigkeit medizintechnischer Geräte“
Organisator: „Kreativität: Schlüssel für unsere Zukunft“
evertiq: „Stand des Isolation Design Flows und der partiellen Rekonfiguration für Zynq 7000 / Zynq UltraScale+“
EPP: „Gib Fehlerquellen keine Chance“
electronic fab: „Erkennung von Hardware-Manipulationen durch Lötzinnanalyse“
electronic fab: „Kreativität, der Schlüssel für unsere Zukunft“
productronic: „Spezielle Langzeitlagerung schließt Versorgungslücke“
Elektronik: „Obsoleszenzmanagement: Langzeitlagerung stellt Verfügbarkeit sicher“
Markt&Technik: „So lässt sich die Alterung aufhalten“
PLUS: „Manipulation auf der Spur – Baugruppen nach dem Reworkprozess“
Elektronik Praxis: „Test- und Analyseverfahren decken Fehlerquellen schonungslos auf“
FOM Magazin: Interview „Obsolescencemanagement“
Elektronik Praxis: „FPGAs in Anwendungen mit hoher IT-Sicherheit“
meditronic Journal: „Langzeitkonservierung und -lagerung elektronischer Komponenten – Risiken und Lösungen“
absatzwirtschaft: „Diskutiert doch mal…Obsoleszenz“
all-electronics.de: „Test- und Analyse für jeden Anwendungsfall“
E&E Faszination Elektronik: „Risiken bei der Langzeitverfügbarkeit von Komponenten sicher managen“
evertiq: „Die Nanoindentation als Analysemethode zur Qualifizierung bei unterschiedlichsten Materialien“
all-electronics.de: „Langzeitlagerung als wichtiger Bestandteil eines strategischen Obsoleszenzmanagements“
evertiq: „Einwandfreie Funktionalität und Qualität dank umfassender Test- und Analytikdienstleistungen“
electronic fab: „Röntgen-Fluoreszenz-Analyse als effiziente Inspektionsmethode für Elektronikprodukte“
PLUS: „Röntgen-Fluoreszenz-Analyse als effiziente Inspektionsmethode für Elektronikprodukte“
Elektronik Praxis: „Langzeitlagerung elektronischer Komponenten“
all-electronics.de: „Analyse per Nanoindentation“
FOM Magazin: Interview „Obsolescencemanagement“
Quality Engineering: „Belastungsfähigkeit auf der Probe“
Design&Elektronik: „Steckverbinder zerstörungsfrei untersuchen“
evertiq: „Röntgenfluoreszenz-Analyse als effiziente Inspektionsmethode für Elektronikprodukte“
meditronic Journal: „Steigende Herausforderungen in der Pflegeindustrie“
all-electronics.de: „Qualitätssicherung durch Test- und Analytik-Dienstleistungen“
electronic fab: „Wachsende Anforderungen an Test und Qualifizierung im globalen Markt“
VDE/DKE-TAGUNG 2017 – Whitepaper – Lagerfähigkeit und Alterungsmechanismen von elektronischen Bauteilen und Komponenten
SMT Insight: „Trends und Entwicklungen beim Testen elektronischer Bauteile“
all-electronics.de: „Langzeitlagerung von elektronischen Bauteilen“
Elektronik Praxis: Geplante Obsoleszenz: „Man kann genau berechnen, wie lange ein Gerät läuft“
electronic fab: „Einwandfreie Funktionalität und Qualität für jeden Anwendungsfall“
yokoten: „Längere Produktlebenszeit schont Ressourcen“
Technik in Bayern: „TAB® zur Langzeitlagerung elektronischer Bauteile“
meditronic Journal: „Schwachstellen früh aufdecken“
productronic: „Ins Innere geschaut“
bahn manager: „Cool bleiben: So lassen sich Obsoleszenzen managen“
TÜV Hessen: „Tüftler im Nanobereich“
yokoten: „Ein Appell für Kreativität“
yokoten: „Wie erkennen Endverbraucher Sollbruchstellen bereits vor dem Kauf?“
evertiq: „Industrie 4.0, eine gesteuerte Hysterie?“
all-electronics.de: „Bauteilfehlern auf der Spur“
Markt&Technik: „Absichtliche Sollbruchstellen finden wir in allen Preisgruppen“
PLUS: „Reworking von Baugruppen“
Markt&Technik: „Lang leben die Bauteile“
EPP: „Effizienter Mixed-Signal-Test bei Halbleiter-Spezialist HTV“
all-electronics.de: „Hochleistungszentrum für elektronische Bauteile“
